元器件二次篩選的必要性：
元器件生產方所開展的一次篩選的項目與應力條件很難完全滿足裝備研制的需要。
進口的元器件通常都是工業級或中低檔產品，甚至存在假冒偽劣產品，難以保證質量和可靠性。
元器件二次篩選的目標：
設法在一批元器件中剔除那些由于原材料、設備、工藝、環境、人為等方面潛在的不良因素所造成的有缺陷的，或可能發生早期失效的器件，而挑選出具有一定特性的合格元器件。
經過元器件篩選，產品的批次使用可靠性水平顯著提高，標準工況下使用，產品失效率可降低半個到兩個數量級，產生可觀的經濟效益。
元器件篩選的特點：
不改變元器件固有可靠性，非破壞性試驗；
對批次產品進行*篩選；
剔除早期失效品，提高元器件使用可靠性；
篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
元器件二次篩選性質分類：
檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性示蹤檢漏、濕度試驗。
環境應力篩選：振動、沖擊、離心加速度、溫度沖擊、溫度存儲、綜合應力。
壽命篩選：功率老化、反偏老化篩選。
元器件二次篩選應遵循的原則：
元器件二次篩選是一種全數試驗項目，對于需要進行二次篩選的元器件應*進行篩選。
元器件二次篩選應是非破壞性的，禁止將對元器件具有破壞性的試驗或檢驗列為二次篩選項目。
元器件二次篩選所加的應力（包括：電應力、機械應力、環境應力等）不得超過產品規范規定的元器件額定應力。
元器件生產方一次篩選已經進行過的篩選項目，且能夠確定其有效性，則二次篩選不應重復進行相同的篩選試驗項目。
通過較高應力等級篩選的元器件，應規為滿足所有較低應力等級篩選。
元器件二次篩選覆蓋標準 ：
GJB 7243-2011軍用電子元器件篩選技術要求；
GJB128A-97半導體分立器件試驗方法；
GJB 360A-96 電子及電?元件試驗方法；
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 ；
GJB 40247A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法；
QJ 10003—2008 進?元器件篩選指南；
MIL-STD-750D 半導體分立器件試驗方法；
MIL-STD-883G；